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采用高靈敏度亮度計用于儀表顯示檢測的解決方案汽車(chē)內儀表顯示分為功能性照明和指示性照明，用于增強黑暗中的照明亮度及指示汽車(chē)儀表狀態(tài)。目前汽車(chē)內背照燈及指標燈越來(lái)越多的采用LED，不僅對其亮度有要求，對其顏色也有較高要求。高靈敏度快速光譜式亮度計PR-740特點(diǎn)：優(yōu)勢：采用制冷型CCD探測器有效抑制暗噪聲及雜散光高靈敏度可快速測試弱光信號一臺儀器zui多可選8個(gè)光闌方便準確對準儀表盤(pán)目標小點(diǎn)多光譜帶寬選項對于窄帶光譜具有更好的精度光譜功率分布測試功能避免同色異譜帶來(lái)的顏色誤差動(dòng)態(tài)范圍寬可以測試顯示面板較大的對比度生產(chǎn)廠(chǎng)家：...

2018 4-13
10分鐘讓老化的LED顯示屏光亮如新--RadiantZemaxLED顯示屏現場(chǎng)再校準解決方案由于LED顯示屏的RGB燈珠的亮度會(huì )隨著(zhù)時(shí)間衰減，且衰減速度不同，造成LED顯示屏亮度、色度不一致，出現老化和花屏現象。如何對這些老化的LED顯示屏進(jìn)行快速、低成本而有效的“現場(chǎng)再校正”，延長(cháng)LED屏的“悅眼壽命”成為越來(lái)越多LED顯示屏企業(yè)的新挑戰，也是新機遇！上圖所示的LED顯示屏，經(jīng)過(guò)2年的使用，由于RGB燈珠衰減的不一致導致花屏，臟屏現象嚴重。您是否還在選擇把箱體拆下運回工廠(chǎng)重新校正后再進(jìn)行安裝？您是否還在選擇...

2018 4-13
解決直讀光譜儀常見(jiàn)問(wèn)題直讀光譜儀采用原子發(fā)射光譜學(xué)的分析原理，樣品經(jīng)過(guò)電弧或火花放電激發(fā)成原子蒸汽，蒸汽中原子或離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜，發(fā)射光譜經(jīng)光導纖維進(jìn)入光譜儀分光室色散成各光譜波段，根據每個(gè)元素發(fā)射波長(cháng)范圍。通過(guò)光電管測量每個(gè)元素的*譜線(xiàn)，每種元素發(fā)射光譜譜線(xiàn)強度正比于樣品中該元素含量，通過(guò)內部預制校正曲線(xiàn)可以測定含量，直接以百分比濃度顯示。直讀光譜儀的常見(jiàn)故障及解決方法：1、直讀光譜儀排氣不暢故障，氬氣排氣管路堵塞，火花室下部的彎頭內有異物，氬氣過(guò)濾器入口端有異物。處理辦法：更換排氣管，...

2018 4-13
Vision系列LED顯示屏光色校正解決方案Vision系列LED顯示屏校正系統是一個(gè)LED顯示屏制造商和用戶(hù)顯著(zhù)改善LED屏色彩和亮度均勻性的解決方案。該系統適用于多種場(chǎng)合校正要求：LED顯示屏制造業(yè)領(lǐng)域的LED模塊和屏幕校正；LED顯示屏使用領(lǐng)域的LED室內和室外屏幕校正；LED顯示屏的重新校準和性能的改善。VisionCAL—LED顯示屏的色度和亮度逐點(diǎn)校正系統VisionCAL系統使用一架PM系列影像色度計測量LED模塊或屏幕中每一顆LED的色度和亮度。在此測量基礎上，VisionCAL應用軟件計算優(yōu)化每個(gè)LE...

2018 4-13
氣體傳感器的類(lèi)型氣體傳感器的類(lèi)型，從檢測氣體種類(lèi)上，常分為可燃氣體傳感器（常采用催化燃燒式、紅外、熱導、半導體式）、有毒氣體傳感器（一般采用電化學(xué)、金屬半導體、光離子化、火焰離子化式）、有害氣體傳感器（常采用紅外、紫外等）、氧氣（常采用順磁式、氧化鋯式）等其它類(lèi)傳感器；從儀表使用方法上，分為便攜式和固定式；從獲得氣體樣品的方式上，分為擴散式（即傳感器直接安裝在被測對象環(huán)境中，實(shí)測氣體通過(guò)自然擴散與傳感器檢測元件直接接觸）、吸入式（是指通過(guò)使用吸氣泵等手段，將待測氣體引入傳感器檢測元件中進(jìn)行檢...

2018 4-13
MEMS器件近紅外檢測技術(shù)在半導體制造過(guò)程中，前期的全自動(dòng)晶圓缺陷檢測技術(shù)非常重要。因為在后端的生產(chǎn)流程中，通常會(huì )有多片晶圓粘合到一起，或者把晶圓粘合到不透明的材料上。因為半導體材料對可見(jiàn)光都是不透明的，所以很難用可見(jiàn)圖像技術(shù)對粘合效果做表征或者檢測粘合表面的污染。比如MEMS的分選就是典型的應用。MEMS是把微型機械部件、微型傳感器、微電路集成到一個(gè)芯片上；為確保MEMS的運作，對其進(jìn)行缺陷檢測是至關(guān)重要的，但很多機械性能無(wú)法通過(guò)電氣或功能測試來(lái)確定。因為這些缺陷往往位于基板上或器件與封蓋晶圓之間連...

2018 4-13
冷CCD相機在微光顯微鏡（EMMI）的應用半導體器件和電路制造技術(shù)飛速發(fā)展，器件特征尺寸不斷下降，而集成度不斷上升。這兩方面的變化都給失效缺陷定位和失效機理的分析帶來(lái)巨大的挑戰。對于半導體失效分析（FA）而言，微光顯微鏡（EmissionMicroscope,EMMI）是一種相當有用且效率高的分析工具。微光顯微鏡其高靈敏度的偵測能力，可偵測到半導體組件中電子－電洞對再結合時(shí)所發(fā)射出來(lái)的光線(xiàn)，能偵測到的波長(cháng)約在350nm~1100nm左右。它可以廣泛的應用于偵測IC中各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，如：Gateoxided...

2018 4-13
飛秒激光及超快/*科學(xué)解決方案以飛秒激光技術(shù)為核心的超快光學(xué)及強場(chǎng)物理科學(xué)，在近20年來(lái)發(fā)展迅速。飛秒激光本身，隨著(zhù)鈦寶石自鎖模振蕩器、CPA技術(shù)、光纖飛秒等重大技術(shù)的創(chuàng )新和發(fā)展，在超快（周期量級飛秒脈沖）、*（峰值功率拍瓦）、穩定性和實(shí)用性等方向上取得了長(cháng)足的發(fā)展。其應用已經(jīng)深入到物理、化學(xué)、材料、生物醫學(xué)、工業(yè)加工的廣闊領(lǐng)域，主要應用如：1）端超快物理研究：阿秒脈沖產(chǎn)生與阿秒動(dòng)力學(xué)；2）端*物理研究：強相對論電子，量子電動(dòng)力學(xué)，實(shí)驗室天體物理；3）強場(chǎng)物質(zhì)相互作用研究：高次諧波，粒子加速，激光驅動(dòng)核聚...

2018 4-13

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